Royalty-Free Stock Photo
Дефектная партия микросхем на заводе. Критическая электронная ошибка привела к расходам или производственным авариям. Уязвимость и кибербезопасность. Промышленный шпионаж. Дефект полупроводника.
Choose your download plan

Дефектная партия микросхем на заводе. Критическая электронная ошибка привела к расходам или производственным авариям. Уязвимость и кибербезопасность. Промышленный шпионаж. Дефект полупроводника.

  • ?
$62.50USD
$150.00USD
$250.00USD

Size MAX
4964x3344px • 16.5" x 11.1" • @300dpi • 6.2MB • jpg
Author credit line
ID 409526313
| Dreamstime.com