СЭМ-снимок крупным планом гексагональной структуры нанопористого материала. Эта сканирующая электронная микрофотография (СЭМ) при большом увеличении демонстрирует сложную гексагональную сотовую структуру нанопористого материала. Точное геометрическое расположение ячеек и масштабная линейка в нанометрах подчеркивают передовой характер этого открытия в области материаловедения.