
RF AI generated
Сканирующая электронная микроскопия периодического дефекта кристаллической решетки фотонного кристалла на основе кремния. Сканирующая электронная микроскопия пластины фотонного кристалла на основе кремния, показывающая периодический массив отверстий с разработанным линейным волноводным дефектом
- ?
Размер MAX
4636x2587px •
15.5" x 8.6" • @300dpi •
2.5MB • jpg
Строка кредита
Ключевые слова изображения
Ещё подобные стоковые иллюстрации


















