
Без роялти Сгенерировано ИИ
Контроль качества при осмотре дефектов полупроводниковой пластины с помощью лупы. Крупный план осмотра дефектов полупроводниковой кремниевой пластины с использованием лупы в лаборатории чистой комнаты. Концепция контроля качества и анализа отказов для процесса производства микросхем, промышленная иллюстрация.
- ?
Размер MAX
5773x4330px •
19.2" x 14.4" • @300dpi •
10.4MB • jpg
Строка кредита
Ключевые слова изображения
Ещё подобные стоковые иллюстрации
















Еще изображения из портфолио Ismail Ismail
















